更新時(shi)間:2024-02-28
鎧裝(zhuang)薄膜(mo)鉑(bo)熱(re)電阻(zu)(zu),WZPK-264U 熱(re)電阻(zu)(zu)的(de)(de)工作原理(li):在(zai)溫度的(de)(de)作用下,電阻(zu)(zu)絲(si)的(de)(de)電阻(zu)(zu)隨之變化而變化。可(ke)用于(yu)測量 -200℃~﹢800℃范圍(wei)內(nei)的(de)(de)溫度。其優點是(shi):偏差極小(xiao)。由于(yu)它的(de)(de)良(liang)好電輸出性能,熱(re)電阻(zu)(zu)可(ke)為顯示儀(yi)、記錄儀(yi)、調節儀(yi)、掃描儀(yi)及(ji)電腦(nao)提供精確的(de)(de)輸入值
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WZPK264U鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-264U,的詳細資料: |
1. 測溫范圍、允(yun)差
2.熱響應(ying)時間 在溫度(du)出現階躍變化時,熱電(dian)阻(zu)的電(dian)阻(zu)值變化至相(xiang)當于該階躍變化的50%,所需要的時間(jian)稱為熱響應(ying)時間(jian),用t0.5表示。 3.自熱影(ying)響 鉑電阻允許通過(guo)電流1mA,zui大(da)測量電流為5mA,由(you)此產生的升(sheng)溫不大于0.3℃。
4.電阻溫度系(xi)數(α)與標稱值的偏(pian)差(cha)
5.絕緣電阻 當周圍空氣溫度15-35℃和相對濕度(du)小于80%時熱電阻(zu)絕緣電阻(zu)不(bu)小于100MΩ。
薄膜鉑電阻元件(jian) 一、 概(gai)述 CRZ系列薄膜(mo)鉑熱電阻元(yuan)件是把(ba)金屬鉑研制(zhi)(zhi)成(cheng)粉漿,采(cai)用*的激光(guang)噴濺薄膜(mo)技術及(ji)光(guang)刻法(fa)和干燥蝕刻法(fa)把(ba)附著在(zai)陶瓷基片上形成(cheng)膜(mo),引線(xian)經過激光(guang)調阻制(zhi)(zhi)成(cheng),*自動的生產程序保證了產品*符合IEC標準(zhun)。 二(er)、 技術(shu)特點 1. 薄膜鉑(bo)熱(re)電阻元件用陶(tao)瓷和鉑(bo)制(zhi)成,因而(er)在高溫下能夠保持優良的穩定(ding)性,適合在-50~400℃的(de)溫度下使用。 2. 鉑薄(bo)膜通過(guo)激光噴濺在(zai)陶瓷表層(ceng),因而它具有良好的(de)防(fang)震和防(fang)沖擊性能(neng)。 3. 薄膜表面蓋以陶瓷,因而元件能夠承受高壓,并具有良(liang)好的絕緣性。 4. 引線材料為鎳鍍金和(he)純鈀兩(liang)種。 5. 規格:
6. 精度:
耐(nai)磨熱(re)(re)電偶,WZPN-230,WZC-130-F,WZC-430-F,WZC-330-F耐(nai)腐(fu)耐(nai)磨型熱(re)(re)電偶電阻 |
021-56699281
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