鎧裝薄膜熱電阻，WZPK-205U

更新時間：2024-02-28

簡要描述：

鎧裝(zhuang)薄膜熱電(dian)阻(zu)(zu)，WZPK-205U，熱電(dian)阻(zu)(zu)的(de)工(gong)作原理：在溫度的(de)作用(yong)(yong)下，電(dian)阻(zu)(zu)絲(si)的(de)電(dian)阻(zu)(zu)隨之變化而變化。可(ke)用(yong)(yong)于測量(liang) -200℃～﹢800℃范圍內的(de)溫度。其優(you)點是：偏差極小。

鎧裝薄膜熱電阻，WZPK-205U，熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內的溫度。其優點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

WZPK205U鎧裝薄膜熱電阻，WZPK-205U，的詳細資料：

1．     測(ce)溫范圍、允(yun)差

名稱	型號	分度號	測溫范圍	等級	允許偏差
鉑電阻	WZP	Pt100 Pt10	-200~±650℃	A	±（0.15+0.02t）
鉑電阻	WZP	Pt100 Pt10	-200~±650℃	B	±0.30+0.005t
銅電阻	WZC	Cu50 Cu100	-50~+150℃		±（0.30+0.006t）

2.熱響(xiang)應時(shi)間

在溫度(du)出現階躍變化時(shi),熱電(dian)阻的電(dian)阻值變化(hua)至相當于該(gai)階躍變化(hua)的50%，所需要的時(shi)間稱為熱響(xiang)應時(shi)間，用t0.5表(biao)示。

3.自熱影響

鉑電阻允許通過電流1mA，zui大測量電流(liu)為5mA，由此產(chan)生的升溫不大于0.3℃。

4.電阻溫度(du)系數(shu)（α）與標(biao)稱值的(de)偏差

名(ming)稱(cheng)	等級	α	α
鉑電阻	A	0．003851	±0.000006
鉑電阻	B	0．003851	±0.000012
銅電阻		0．004280	±0.000020

5.絕(jue)緣電阻

當周(zhou)圍空(kong)氣(qi)溫度15-35℃和相對濕度小于80%時熱電(dian)阻絕緣電(dian)阻不小于100MΩ。

薄膜鉑電(dian)阻(zu)元件(jian)

一、 ; ; 概述

CRZ系(xi)列薄膜鉑熱(re)電阻元(yuan)件是把金屬鉑研制成(cheng)粉漿(jiang)，采(cai)用*的(de)激(ji)光噴濺薄膜技(ji)術及光刻法(fa)和干燥蝕(shi)刻法(fa)把附著(zhu)在陶瓷基片上形成(cheng)膜，引線經過激(ji)光調(diao)阻制成(cheng)，*自動(dong)的(de)生(sheng)產(chan)程序保證了(le)產(chan)品*符(fu)合IEC標準。

二、技術特點

1．     薄膜鉑(bo)熱電阻元件用(yong)陶瓷(ci)和(he)鉑(bo)制(zhi)成，因而在(zai)高(gao)溫下能夠保持優良的(de)穩定性，適合在(zai)-50～400℃的溫度(du)下使用。

2．   ;鉑薄(bo)膜通過激光噴(pen)濺在陶瓷表層(ceng)，因而它具有良好的防(fang)震和防(fang)沖擊性(xing)能(neng)。

3． ;   薄(bo)膜表面蓋(gai)以陶瓷，因(yin)而元件能夠承受高(gao)壓，并具有良好(hao)的絕緣性。

4．   引(yin)線材料為(wei)鎳鍍金和純鈀兩種。

5． ; 規格：

型號	規格長×寬×高	阻(zu)值	測量電流(liu)	精度	測量范(fan)圍	熱響應時間
CRZ-1632	3.2×1.6×1.0	PT100 PT100	≤1mA	A	-50～550℃	≤0.3S
CRZ-2005	5.0×2.0×1.1	PT50	≤2mA	A	-50～400℃
CRZ-2005	5.0×2.0×1.0	PT10	≤0.5mA	B	-50～500℃