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鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-263U

更新時間(jian):2024-02-28

簡要描述:

鎧(kai)裝(zhuang)薄膜鉑熱電(dian)阻(zu)(zu)(zu),WZPK-263U, 熱電(dian)阻(zu)(zu)(zu)的工(gong)作原(yuan)理(li):在溫度的作用下,電(dian)阻(zu)(zu)(zu)絲的電(dian)阻(zu)(zu)(zu)隨之(zhi)變化而(er)變化。

鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-263U上海自動化儀表三廠, 熱電阻的工作原理:在溫度的作用下,電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的溫度。其優點是:偏差極小。由于它的良好電輸出性能,熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值
 WZPK-263U鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-263U上海自動化儀表三廠的詳細資料:

1. ;             測溫(wen)范圍、允差

 

名稱(cheng)

型號(hao)

分度號

測溫范圍

等(deng)級

允許(xu)偏(pian)差(cha)

鉑(bo)電阻

WZP

Pt100

Pt10

-200~±650

A

±(0.15+0.02t)

B

±0.30+0.005t

銅(tong)電阻(zu)

WZC

Cu50

Cu100

-50~+150

 

±(0.30+0.006t)

 

2.熱響應時間

   在溫(wen)度(du)出現階(jie)躍變化時,熱(re)電阻的(de)電阻值(zhi)變化至相當于該(gai)階躍變化的(de)50%,所需要(yao)的時間稱為熱(re)響應時間,用(yong)t0.5表示。

3.自熱影響(xiang)

鉑電阻允許通過電流1mA,zui大測量電流為(wei)5mA,由此產生的升溫(wen)不大于0.3℃。

 

4.電阻溫度系數(shu)(α)與(yu)標稱(cheng)值的偏差

 

名稱

等級(ji)

α

α

鉑(bo)電阻

A

0003851

±0.000006

B

±0.000012

銅(tong)電阻

 

0004280

±0.000020

 

5.絕緣電(dian)阻

     當(dang)周(zhou)圍空氣溫度15-35和相對濕度小于80%時熱電(dian)阻絕緣(yuan)電(dian)阻不小于100MΩ

 

薄(bo)膜鉑電阻元件(jian)

一、         概述

      CRZ系列薄(bo)膜(mo)鉑熱電阻元件是(shi)把金(jin)屬鉑研制成(cheng)粉漿,采(cai)用*的激(ji)光噴濺薄(bo)膜(mo)技術及光刻(ke)法(fa)和干燥蝕刻(ke)法(fa)把附(fu)著在陶瓷基片上形(xing)成(cheng)膜(mo),引線經過激(ji)光調阻制成(cheng),*自動(dong)的生產程序保證了產品*符合IEC標準。

二、         技(ji)術特(te)點

1.              薄膜(mo)鉑熱電阻元件(jian)用陶瓷(ci)和鉑制成,因而在(zai)高溫下能夠(gou)保(bao)持(chi)優良(liang)的(de)穩定性,適合在(zai)-50~400℃的溫度下使(shi)用。

2.              鉑(bo)薄(bo)膜通過激光噴濺在陶瓷表層,因而它具(ju)有(you)良好的防震(zhen)和防沖擊性(xing)能。

3.              薄(bo)膜表(biao)面蓋(gai)以(yi)陶瓷,因而元件能夠承受高壓,并(bing)具有良好的絕(jue)緣(yuan)性。

4.              引線材料為(wei)鎳鍍金和純鈀兩(liang)種。

5.              規格(ge):

 

型號

規格

長×寬×高(gao)

阻值

測量電流(liu)

精度

測量范圍

熱響應時間(jian)

CRZ-1632

3.2×1.6×1.0

PT100

PT100

1mA

A

-50~550℃

0.3S

CRZ-2005

5.0×2.0×1.1

PT50

2mA

A

-50~400℃

CRZ-2005

5.0×2.0×1.0

PT10

0.5mA

B

-50~500℃

 

6.              精度:

 

等級

α

0時的電阻值(Ω)

允許偏差(Ω)

A

 0.003851

100.00

±0.150+0.002t

B

0.003851

100.00

±0.30+0.005t

 

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