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鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-335U

更新(xin)時間(jian):2024-02-28

簡要描述:

鎧裝薄膜鉑熱電(dian)阻(zu)(zu),WZPK-335U, 熱電(dian)阻(zu)(zu)的(de)工作原理(li):在溫度的(de)作用(yong)下,電(dian)阻(zu)(zu)絲的(de)電(dian)阻(zu)(zu)隨之(zhi)變化(hua)而變化(hua)。

鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-335U上海自動化儀表三廠, 熱電阻的工作原理:在溫度的作用下,電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的溫度。其優點是:偏差極小。由于它的良好電輸出性能,熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。
 WZPK335U鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-335U上海自動化儀表三廠,的詳細資料:

1.              測溫(wen)范圍、允差

 

名稱(cheng)

型號(hao)

分度號

測(ce)溫(wen)范圍

等級

允許偏差

鉑電(dian)阻

WZP

Pt100

Pt10

-200~±650

A

±(0.15+0.02t)

B

±0.30+0.005t

銅電阻

WZC

Cu50

Cu100

-50~+150

 

±(0.30+0.006t)

 

2.熱(re)響應(ying)時(shi)間

   在(zai)溫(wen)度出(chu)現(xian)階(jie)躍變(bian)化時,熱(re)電阻的電阻值變(bian)(bian)化至相當于該階躍變(bian)(bian)化的50%,所(suo)需要的時(shi)間稱(cheng)為熱響應時(shi)間,用t0.5表示(shi)。

3.自熱影(ying)響

鉑電(dian)阻允許通過電(dian)流1mA,zui大測量電流為5mA,由此(ci)產生的(de)升溫不大于0.3℃。

 

4.電阻(zu)溫度(du)系數(α)與標稱值的偏差

 

名稱

等級(ji)

α

α

鉑(bo)電阻

A

0003851

±0.000006

B

±0.000012

銅電阻

 

0004280

±0.000020

 

5.絕緣電阻(zu)

     當周圍空氣溫度15-35和相對濕度小于80%時熱電阻絕(jue)緣電阻不小于100MΩ

 

薄膜鉑電阻元(yuan)件

一、  ;       概述

      CRZ系列薄膜(mo)鉑(bo)熱電阻(zu)元件是把(ba)金屬鉑(bo)研制成粉漿,采用*的激(ji)光(guang)(guang)噴濺薄膜(mo)技術及光(guang)(guang)刻法(fa)和干燥蝕刻法(fa)把(ba)附著(zhu)在陶瓷基(ji)片上形成膜(mo),引線(xian)經過激(ji)光(guang)(guang)調阻(zu)制成,*自動的生產程(cheng)序保(bao)證了產品*符合IEC標準。

二、         技術特點

1.              薄膜鉑熱電(dian)阻元件用陶瓷和鉑制成(cheng),因而在高溫下能夠(gou)保持優(you)良的穩定性,適合在-50~400℃的溫度下使(shi)用。

2.              鉑(bo)薄膜通過激光噴濺在陶瓷(ci)表層,因(yin)而(er)它具有良(liang)好(hao)的防(fang)震和防(fang)沖(chong)擊性(xing)能。

3.              薄膜表面(mian)蓋以陶瓷,因(yin)而元件(jian)能夠承受(shou)高(gao)壓,并(bing)具有(you)良好(hao)的絕緣(yuan)性。

4.              引線材(cai)料為鎳鍍(du)金和純鈀兩種。

5.     ;         規格:

 

型號

規格

長×寬×高

阻值

測量電流

精度

測量范圍

熱響應時間

CRZ-1632

3.2×1.6×1.0

PT100

PT100

1mA

A

-50~550℃

0.3S

CRZ-2005

5.0×2.0×1.1

PT50

2mA

A

-50~400℃

CRZ-2005

5.0×2.0×1.0

PT10

0.5mA

B

-50~500℃

 

6.              精(jing)度:

 

等級

α

0時的電(dian)阻值(Ω)

允許(xu)偏差(cha)(Ω)

A

 0.003851

100.00

±0.150+0.002t

B

0.003851

100.00

±0.30+0.005t

 

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