更(geng)新時間(jian):2024-02-28
薄膜鉑熱電阻(zu),WZP-6212U, 熱電阻(zu)的(de)工作原理:在溫度(du)的(de)作用(yong)下,電阻(zu)絲的(de)電阻(zu)隨之(zhi)變(bian)化而變(bian)化。可用(yong)于(yu)測量 -200℃~﹢800℃范圍內的(de)溫度(du)。其優點是:偏差(cha)極小(xiao)。
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WZP6212U薄膜鉑熱電阻,WZP-6212U,的詳細資料: |
1. 測溫范圍、允差
2.熱(re)響應時間 在(zai)溫度(du)出現(xian)階(jie)躍(yue)變化時,熱電阻(zu)的(de)(de)電阻(zu)值變(bian)化(hua)至相(xiang)當于該(gai)階躍變(bian)化(hua)的(de)(de)50%,所(suo)需要的時間稱為熱響(xiang)應時間,用t0.5表(biao)示。 3.自熱影響 鉑(bo)電阻(zu)允許(xu)通過(guo)電流(liu)1mA,zui大(da)測量(liang)電流(liu)為5mA,由此產(chan)生(sheng)的升(sheng)溫(wen)不大于0.3℃。
4.電阻溫度系(xi)數(α)與標(biao)稱值(zhi)的偏差(cha)
5.絕(jue)緣(yuan)電阻 當周圍(wei)空氣溫度15-35℃和相(xiang)對濕度小于80%時(shi)熱電阻絕緣(yuan)電阻不小于(yu)100MΩ。
薄膜鉑電阻(zu)元件 一、 概述(shu) CRZ系(xi)列薄膜(mo)鉑熱(re)電阻元件是(shi)把金屬鉑研制成粉(fen)漿,采(cai)用*的激光(guang)噴濺薄膜(mo)技術及(ji)光(guang)刻法和干燥蝕刻法把附著在陶瓷基片上(shang)形成膜(mo),引線經過激光(guang)調阻制成,*自動(dong)的生(sheng)產(chan)程序保(bao)證了產(chan)品*符合(he)IEC標準。 二、 技術特點 1. 薄(bo)膜(mo)鉑熱電阻元件(jian)用(yong)陶瓷(ci)和(he)鉑制成(cheng),因而在(zai)高溫下能夠保持優良的(de)穩定性,適合(he)在(zai)-50~400℃的(de)溫度下使用。 2. 鉑薄膜通過激光噴濺在陶瓷(ci)表(biao)層(ceng),因而它具有良好的防震和防沖(chong)擊性(xing)能。 3. 薄膜(mo)表面(mian)蓋以陶瓷,因而元件能夠承受高壓(ya),并具有良好的(de)絕緣(yuan)性(xing)。 4. 引(yin)線材(cai)料為鎳(nie)鍍金和純(chun)鈀兩(liang)種。 5. 規格:
6. 精度:
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021-56699281
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