更新時(shi)間:2024-02-28
薄膜鉑熱電(dian)阻(zu),WZP-4212U, 熱電(dian)阻(zu)的工作原(yuan)理(li):在(zai)溫度的作用(yong)(yong)下(xia),電(dian)阻(zu)絲的電(dian)阻(zu)隨(sui)之變(bian)化(hua)而(er)變(bian)化(hua)。可用(yong)(yong)于測量(liang) -200℃~﹢800℃范(fan)圍內的溫度。其優點(dian)是:偏差(cha)極(ji)小。
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WZP4212U薄膜鉑熱電阻,WZP-4212U,的詳細資料: |
1. 測(ce)溫(wen)范圍、允差
2.熱響(xiang)應(ying)時(shi)間 在溫度出現階(jie)躍變化時,熱電(dian)阻的電(dian)阻值變(bian)化至相(xiang)當于該階躍(yue)變(bian)化的50%,所需要的時(shi)間稱為熱響應(ying)時(shi)間,用t0.5表示。 3.自熱影(ying)響(xiang) 鉑(bo)電(dian)阻允許通過電(dian)流(liu)1mA,zui大測(ce)量電流為(wei)5mA,由此產生(sheng)的升溫不(bu)大(da)于(yu)0.3℃。
4.電(dian)阻溫度系(xi)數(α)與標稱(cheng)值的偏差
5.絕緣電阻 當周圍空(kong)氣溫度(du)15-35℃和(he)相對濕度小(xiao)于80%時(shi)熱電(dian)阻絕(jue)緣電(dian)阻不小于100MΩ。
薄膜鉑(bo)電阻元件 一(yi)、 概述 CRZ系(xi)列薄膜(mo)鉑熱電(dian)阻元件(jian)是把金屬鉑研制(zhi)成(cheng)粉漿,采用*的激光噴濺(jian)薄膜(mo)技術及光刻法和干燥蝕(shi)刻法把附著在陶瓷(ci)基片上形成(cheng)膜(mo),引線經(jing)過激光調阻制(zhi)成(cheng),*自(zi)動的生產程序保(bao)證(zheng)了產品*符合IEC標準。 二、 技(ji)術特點 1. 薄膜鉑(bo)熱電阻元(yuan)件用陶瓷和鉑(bo)制成,因(yin)而在高溫下能夠(gou)保持(chi)優良的穩(wen)定性,適合在-50~400℃的溫度下使用。 2. 鉑薄膜(mo)通過激光噴(pen)濺在陶(tao)瓷(ci)表層(ceng),因(yin)而它具有良(liang)好的防震和防沖(chong)擊性能(neng)。 3. 薄膜表面蓋以(yi)陶瓷,因而元件能(neng)夠承受(shou)高壓,并(bing)具有良(liang)好的絕緣性(xing)。 4. 引(yin)線材(cai)料為(wei)鎳鍍金和純鈀兩種(zhong)。 5. 規格:
6. 精度:
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021-56699281
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