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WGG2-323型光學高溫計

更新時(shi)間:2024-03-04

簡要描述:

WGG2-323型(xing)光(guang)學高溫計(ji)一般用(yong)來測量700~3200℃范圍(wei)澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處(chu)理和玻(bo)璃熔融時的(de)溫度,具有(you)結構簡(jian)單、使用(yong)方便、量程(cheng)較寬、有(you)較高的(de)精度等優(you)點。

· WGG2-323型光學高(gao)溫計由上海自動化儀表三廠*生產制造,我廠生產的光學高溫計,又稱“非接觸式高溫儀表”,般用來測量700~3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時的溫度,具有結構簡單、使用方便、量程較寬、有較高的精度等優點。本廠愿竭誠心為國內外客商提供優質的產品和優良的技術服務! 


產品簡介(jie)

    WGG2-201N型數顯光學高溫計是非(fei)接(jie)觸式測(ce)量(liang)(liang)(liang)高(gao)溫(wen)(wen)的(de)儀(yi)表,當(dang)被測(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)溫(wen)(wen)度(du)高(gao)于熱(re)電偶(ou)(ou)所(suo)能使用(yong)的(de)范圍(wei),以及熱(re)電偶(ou)(ou)不可(ke)能裝置或不適宜裝置的(de)場(chang)所(suo),用(yong)光學高(gao)溫(wen)(wen)計一般可(ke)以滿足這個要求。它(ta)廣泛地用(yong)來測(ce)量(liang)(liang)(liang)冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃(li)熔(rong)窖(jiao)、鍛打、熱(re)處理(li)等溫(wen)(wen)度(du),是冶金(jin)、化(hua)工(gong)和(he)機械等工(gong)業生產過程(cheng)中*的(de)溫(wen)(wen)度(du)測(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)表之一,并符(fu)合(he)JB/T2167-1999標準。


WGG2-323型光學高溫(wen)計主(zhu)要技術(shu)指標

型號及名稱:

測溫范(fan)圍:1200~3200℃

制造商:上海(hai)自動化儀表三(san)廠

質保(bao)期限:壹年(nian)

型號規格

  1、測量范圍和允許(xu)的基本誤差

產品型(xing)號

測量范圍(wei)℃

量程

允許(xu)基本誤差℃

WGG2-201N

700-2000

1

700-800

±33

800-1500

±22

2

1200-2000

±30

WGG2-323N

1200-3200

1

1200-2000

±30

2

1800-3200

±80

2、工作電(dian)(dian)壓:3V(兩節1#干電(dian)(dian)池(chi))

3、工作距離:不小于0.7m

4、工作環境:溫(wen)度為10-50℃,相對濕度不大于80%

5、外形(xing)尺寸:252*140*164mm

結構與原理

 (一)原理與結構

      產品的原理基于維恩公式,采用已知溫度的亮度(高溫計燈泡的燈絲的亮度)與被測物體的亮度進行比較來測量物體的溫度,通過光學系統在一定波段(0.66μm)范圍比較燈絲與被測物體的表明亮度,使燈絲的亮度和被測物體的亮度相均衡,采用數字檢測及顯示技術讀出物體的亮度溫度。
 ;     數字顯示式光學高溫計由光學系統和電測系統構成,結構如圖一所示:

(二)測量與讀數

1. 進行亮度平衡時,應使燈絲的頂部亮度進行平衡,否則會產生很大的誤差。
   2. 瞄準被測物體,接通電源,使用S鍵(量程鍵)切換量程,根據吸收玻璃旋鈕2的指向進行選擇。
   3. 旋轉滑線電阻盤3,使燈絲的電流逐漸的增大,調節燈絲的亮度到燈絲頂部的象隱滅在被測物體的象中,讀取顯示的溫度值。光學高溫計燈泡燈絲的隱滅情況如圖四所示。
      為了獲得正確的讀數,應該逐漸的調節高溫計燈泡燈絲的電流,先從從暗到亮,從亮到暗反復兩次,每次調整到燈絲隱滅時讀出溫度值,然后將四次讀數的平均值作為被測物體的亮度溫度。
   4. 數據處理
     ; 當需要存儲當前的數據時,要在松開電源開關7后,按下M/R鍵10(存儲再讀鍵),此次的測量溫度值被記錄,一共可以存儲十組數據。當需要查看以前的存儲數據時,在關機后按下M/R鍵10,進入數據回現模式,自動顯示zui近一次保存的數據,每按一次M/R鍵,顯示上一次保存的數據,顯示完十個數據后自動跳回*個數據,如圖所示:

5. 求出(chu)真(zhen)實溫(wen)度(du)

      光學高溫計是按黑體進行溫度刻度的,但在實際使用中,大部分被測物體的單位發射率?λ都小于1,故用光學高溫計測得的亮度溫度S℃總是低于該物體的真實溫度T℃需要按照附表2修正曲線加以修正。
      修正公式:
      真實溫度T℃=光學高溫計讀數S℃+溫度修正值Δt℃
      物體的真實溫度T℃和其亮度溫度S℃及單色發射率ελ的關系式如下:


 

     1     
T+273
=     1     
S+273
+1.0404×10-4logελ

      修正方法:
      根據被測對象,從附表1中查出其單色發射率?λ。由高溫計的zui終讀數S℃,從曲線圖的橫坐標中查出其對應位置,再從縱坐標中查出對應S℃及該種物體的的單色發射率?λ時的溫度修正值?t℃。由修正公式求出其真實溫度T℃。
      6. 關機
      當光學高溫計在待機15s后,無任何操作,即可關機。


 附表1.有效波長(chang)λ=0.66μm時(shi)各種金屬材料(liao)的(de)單色輻射率

材料名稱(cheng)表面無氧化層有氧化層(ceng)光滑(hua)表面
固(gu)態液態
0.22~0.4
銀(yin)0.070.07
銅(tong)0.350.370.8
鑄鐵0.370.40.7
0.10.150.6~0.8
康銅0.350.84
0.360.370.85~0.96
鎳鉻合金   
90%Ni,10%Cr0.350.87
80%Ni,20%Cr0.350.90
鎳鉻合金   
95Ni,Al,Mn,Si0.37
磁器0.25~0.50
石墨(粉狀)0.95
碳(tan)0.80~0.93


 

附表2. 光學高溫計讀數修正曲線圖


應用范圍

    適用于各種冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等現場溫度測量。

高溫計使用注意事項

    (1)盡量避免黑度(du)系數(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)影響。光學(xue)高溫(wen)計的(de)(de)(de)(de)(de)(de)標尺是(shi)按(an)黑體(ti)標定的(de)(de)(de)(de)(de)(de).而實(shi)際的(de)(de)(de)(de)(de)(de)被測(ce)物體(ti)都(dou)不是(shi)黑體(ti),儀(yi)表(biao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)讀數(shu)(shu)應當(dang)技式(shi)(3-50)進行修(xiu)正、求出真實(shi)據度(du)。由于(yu)黑度(du)系數(shu)(shu)與(yu)物體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)材質(zhi)、表(biao)面狀(zhuang)況、溫(wen)度(du)及(ji)波長等有關(guan),雖然一(yi)些書籍中列入了(le)某些材彩的(de)(de)(de)(de)(de)(de)q值,也(ye)只告(gao)訴廠一(yi)個估(gu)值范圍,實(shi)際應用中較難估(gu)計準確(que)。為(wei)了(le)減少這一(yi)測(ce)量誤差,可(ke)以(yi)(yi)在測(ce)量中使被測(ce)對象盡可(ke)能地接近黑體(ti)。例如,從(cong)滬(hu)門(men)上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)小孔觀測(ce)爐膛內部(bu)空間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)溫(wen)度(du),可(ke)以(yi)(yi)認為(wei)其黑度(du)系數(shu)(shu)近似(si)為(wei)1,根據式(shi)(3—50),儀(yi)表(biao)示(shi)值就基本上(shang)是(shi)護膛內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)真實(shi)溫(wen)度(du),無須加以(yi)(yi)修(xiu)正了(le)。

(2)盡量(liang)減少中間介質的(de)(de)吸(xi)收(shou)(shou)。被(bei)測物體(ti)至(zhi)高溫計(ji)(ji)之(zhi)間的(de)(de)水蒸氣、二氧化碳;灰塵等均會(hui)吸(xi)收(shou)(shou)被(bei)測物體(ti)的(de)(de)輻(fu)射能,減弱到達高溫計(ji)(ji)的(de)(de)亮度,使測量(liang)結(jie)果低于實際溫度,因(yin)此.應當盡可能在(zai)清(qing)潔環境(jing)中測量(liang),以克服中間介質吸(xi)收(shou)(shou)的(de)(de)影響。

(3)測(ce)量(liang)距離(li)的(de)(de)限制。由于中間(jian)介質的(de)(de)影響存在,測(ce)量(liang)距離(li)忿(fen)大,造成的(de)(de)誤(wu)差(cha)也愈大。另一方面根據(ju)儀器光學系(xi)統設計(ji)的(de)(de)要求(qiu),測(ce)量(liang)距離(li)要大于700mm,因此,光學高溫(wen)計(ji)的(de)(de)測(ce)量(liang)距離(li)在 1-2m內為好。

(4)防止非自(zi)身(shen)(shen)輻射的影響。如果到達光學(xue)高(gao)溫(wen)計的輻射線不僅有被(bei)測物(wu)(wu)自(zi)身(shen)(shen)的輻射,還有其它物(wu)(wu)體(ti)發(fa)出經被(bei)測物(wu)(wu)體(ti)表面(mian)反(fan)射而進入物(wu)(wu)鏡的射線時,使(shi)測量結(jie)果高(gao)于實際物(wu)(wu)體(ti)溫(wen)度(du)。

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