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薄膜鉑熱電阻,WZP-4312U,

更新時間:2024-02-28

簡要描述:

薄膜鉑(bo)熱電(dian)阻,WZP-4312U, 熱電(dian)阻的(de)(de)工作(zuo)原理:在溫度的(de)(de)作(zuo)用下,電(dian)阻絲的(de)(de)電(dian)阻隨之變(bian)化(hua)而變(bian)化(hua)。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的(de)(de)溫度。

薄膜鉑熱電阻,WZP-4312U, 熱電阻的工作原理:在溫度的作用下,電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃~﹢800℃范圍內的溫度。其優點是:偏差極小。由于它的良好電輸出性能,熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。
 WZP4312U薄膜鉑熱電阻,WZP-4312U,的詳細資料:

1.              測溫范(fan)圍、允(yun)差

 

名稱

型號

分度號

測溫(wen)范圍(wei)

等(deng)級

允許偏(pian)差

鉑電阻

WZP

Pt100

Pt10

-200~±650

A

±(0.15+0.02t)

B

±0.30+0.005t

銅電阻

WZC

Cu50

Cu100

-50~+150

 

±(0.30+0.006t)

 

2.熱響應時間

   在溫(wen)度(du)出現階躍變化時,熱電(dian)阻的(de)電(dian)阻值變化至相當于該階躍變化的(de)50%,所需要的(de)時間稱為熱(re)響應時間,用(yong)t0.5表(biao)示。

3.自熱影響

鉑電(dian)阻允許通(tong)過電(dian)流1mA,zui大測(ce)量電流為5mA,由此產生(sheng)的(de)升溫不大于0.3℃。

 

4.電阻溫(wen)度系數(α)與(yu)標稱值的偏(pian)差

 

名稱

等(deng)級

α

α

鉑電阻(zu)

A

0003851

±0.000006

B

±0.000012

銅(tong)電阻

 

0004280

±0.000020

 

5.絕緣電阻

     當周圍空氣溫度15-35和相對(dui)濕度小于80%時熱電阻絕緣(yuan)電阻不小于(yu)100MΩ

 

薄(bo)膜鉑(bo)電阻元件

一、         概述

      CRZ系列薄(bo)膜鉑熱電阻(zu)(zu)元件是把金屬鉑研(yan)制(zhi)成(cheng)粉(fen)漿(jiang),采(cai)用*的激光(guang)噴(pen)濺薄(bo)膜技術(shu)及光(guang)刻(ke)(ke)法和(he)干(gan)燥蝕刻(ke)(ke)法把附著(zhu)在陶瓷(ci)基(ji)片上形(xing)成(cheng)膜,引線經(jing)過激光(guang)調阻(zu)(zu)制(zhi)成(cheng),*自(zi)動的生產程序保(bao)證(zheng)了產品*符合IEC標準。

二、         技術(shu)特點(dian)

1.              薄膜(mo)鉑熱電阻元件用陶(tao)瓷和鉑制成,因而在(zai)高溫(wen)下能夠保持優良的穩定(ding)性,適合在(zai)-50~400℃的溫度下使用(yong)。

2.              鉑薄膜(mo)通過激光噴濺在陶瓷表層,因而它具有良好(hao)的防震和防沖擊性能。

3.              薄膜表面蓋(gai)以陶瓷,因(yin)而元(yuan)件(jian)能夠(gou)承受(shou)高壓,并具(ju)有(you)良好的絕緣性。

4.    ;          引線(xian)材料為鎳(nie)鍍金和純鈀兩種。

5.              規格:

 

型(xing)號

規格

長×寬×高

阻值

測(ce)量電流

精度

測(ce)量范圍

熱響應(ying)時間

CRZ-1632

3.2×1.6×1.0

PT100

PT100

1mA

A

-50~550℃

0.3S

CRZ-2005

5.0×2.0×1.1

PT50

2mA

A

-50~400℃

CRZ-2005

5.0×2.0×1.0

PT10

0.5mA

B

-50~500℃

 

6.   ;           精度:

 

等級

α

0時的電阻(zu)值(Ω)

允許(xu)偏差(cha)(Ω)

A

 0.003851

100.00

±0.150+0.002t

B

0.003851

100.00

±0.30+0.005t

 

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